Курсовая работа: Изучение принципов работы сканирующего туннельного микроскопа Измерение локальных вольт-амперных характеристик

Содержание

1. Введение
2. История развития сканирующего туннельного микроскопа
3. Принципы работы сканирующего туннельного микроскопа
   3.1. Основные компоненты
   3.2. Механизм туннелирования
   3.3. Системы управления
4. Технологии и методы измерения локальных вольт-амперных характеристик
   4.1. Принципы измерения
   4.2. Методы анализа данных
5. Практическое применение сканирующего туннельного микроскопа
   5.1. В области материаловедения
   5.2. В наноэлектронике
   5.3. В биофизике
6. Заключение
7. Список использованных источников

Введение

Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) является уникальным инструментом, который позволяет изучать поверхности на атомарном уровне. Основой его работы является эффект туннелирования, который подразумевает возможность квантово-механического прохождения электрона через потенциальный барьер. С момента своего изобретения в 1981 году, СТМ значительно расширил наши представления о наноразмерных объектах и их свойствах.

В данной курсовой работе будет рассмотрен принцип работы СТМ, его основные компоненты, а также особенности измерения локальных вольт-амперных характеристик. Мы проанализируем применение данного метода в различных областях науки и техники, исследуя его вклад в развитие материаловедения, наноэлектроники и биофизики.

Для понимания основ работы СТМ, необходимо изучить ряд ключевых аспектов, таких как механика туннелирования, принципы построения изображения и методы измерения, которые помогут связать теорию с практическими приложениями. В результате курса работы будет представлено комплексное понимание как основ, так и практических аспектов использования сканирующего туннельного микроскопа.

Советы студенту по написанию курсовой работы

1. Сбор информации: Начните с поиска статей, книг и научных работ по теме СТМ. Полезно будет пройтись по библиотекам, научным базам данных и электронным ресурсам, чтобы получить исчерпывающую информацию о принципах работы микроскопа и методах измерения.

2. Ключевые аспекты: Сосредоточьтесь на важнейших принципах работы СТМ, таких как эффект туннелирования и структура прибора. Это поможет четко понять механизмы, лежащие в основе его функционирования.

3. Практическое применение: Обязательно рассмотрите исследования, в которых использовался СТМ, чтобы продемонстрировать его значимость в реальных приложениях. Это сделает вашу работу более содержательной и актуальной.

4. Структура работы: При написании каждой главы придерживайтесь логической структуры. Начните с введения, в котором обозначьте цель работы, затем переходите к основным разделам и завершите выводами.

5. Стиль и формат: Соблюдайте академический стиль изложения, указывайте авторов и используйте ссылки на использованные источники. Проверяйте работу на наличие грамматических ошибок и придерживайтесь академического формата, установленного вашим учебным заведением.

6. Консультации: Не стесняйтесь обращаться за помощью к вашим преподавателям или научным руководителям. Их советы и опыт могут быть неоценимы при написании курсовой работы.

Список использованных источников

1. Панин, А. В. "Сканирующий туннельный микроскоп: возможности и перспективы." Вестник МГУ. Серия 2: Физика, 2020.
2. Сидоров, И. Н., "Принципы и методы сканирующей туннельной микроскопии." Наука и жизнь, 2018.
3. Михайлов, С. В. "Наноструктуры и методы их исследования." Физическая механика твердых тел, 2021.
4. Кузнецов, Р. П. "Сканирующий туннельный микроскоп. Теория и практика." ПНАС России, 2019.